原理：对半导体辐射探测器PN结或肖特基结施加反向偏压，周期性施加电压脉冲使陷阱态填充，脉冲结束后陷阱以热发射释放载流子，引起结电容瞬态变化。通过率窗分析电容瞬态时间常数随温度的变化，提取陷阱激活能、浓度及俘获截面。

原理：将聚焦至微米或亚微米尺度的光斑在辐射探测材料或探测器表面进行二维栅格扫描，同步采集每一扫描位置的光电流或电荷收集信号，将信号幅值映射为空间灰度或伪彩色图像，形成光电流分布图。光电流幅值反映局域电荷收集效率与载流子输运特性。

原理：以单色X射线辐照样品表面，光子能量大于原子内层电子结合能，激发光电子逸出表面。测量逸出光电子的动能分布，由光电发射方程换算电子结合能，获得X射线光电子能谱。峰位对应元素及化学态，峰强反映元素相对含量。

原理：以单色激光照射辐射探测材料，光子与晶格振动或分子振动发生非弹性散射，散射光频率相对于入射光发生位移，位移量对应声子或化学键振动能量。收集散射光强随拉曼位移的分布，获得反映材料晶格结构与化学键信息的拉曼光谱。

原理：以重复脉冲辐射源或单光子源入射待测探测器，精确记录每次事件输出脉冲的到达时间，统计大量事件到达时间相对于参考信号的时间差分布，计算该分布的均方根偏差或半高全宽，即为时间抖动。时间抖动反映探测器及读出电子学系统的时间响应不确定性。

原理：以已知能量的单能辐射粒子或光子入射探测器，测量输出脉冲幅度，与探测器灵敏体积内完全电荷收集时的理论脉冲幅度比较，二者比值即为电荷收集率。常用方法包括波形积分法，即直接采集前置放大器输出脉冲波形并积分获取收集电荷量；或能谱法，由全能峰位与理论能量的偏离推算电荷收集亏损。

原理：以单能或多能标准放射源辐照探测器，采集输出脉冲幅度谱，获得全能峰。测量全能峰半高宽，将其除以峰位能量（常用百分比表示），即为能量分辨率。该参数反映探测器区分能量相近的辐射粒子或光子的能力，与电荷产生统计涨落、电荷收集效率及电子学噪声直接相关。

原理：以正弦调制或扫频调制的辐射束激励待测探测器，调制频率从低频至高频连续扫描，同步记录探测器输出信号的幅度，绘制频率响应曲线，确定输出信号幅度下降至低频参考值3dB处对应的上限截止频率，即探测器的3dB调制带宽。

原理：在噪声等效功率测量基础上，将探测器光敏面积与测量带宽的平方根乘积除以噪声等效功率，获得比探测率。该参数将探测器的探测灵敏度归一化至单位面积和单位带宽，消除了探测器尺寸与测量带宽差异对灵敏度比较的干扰。D值越大表示探测器对微弱辐射信号的探测能力越强。

原理：在屏蔽暗场条件下，测量探测器在特定偏压下的噪声电压或电流功率谱密度，同时测定其对已知辐射通量的响应度，将噪声谱密度除以响应度，计算出噪声等效功率，即探测器输出信噪比为1时所需的最小入射辐射功率。

原理：以标准辐射品质的均匀X射线束照射探测器，采集二维图像，分析调制传递函数及噪声功率谱，计算输出信噪比平方与入射光子信噪比平方之比，获得探测量子效率随空间频率的变化曲线，反映探测器对入射辐射信息传递效率。