具体测试对象：
直接转换型半导体辐射探测器、闪烁体耦合型辐射探测器
气体探测器、金刚石辐射探测器
中子转换层耦合半导体探测器、X射线光子计数探测器等
1 项目介绍
原理：以已知注量率的X射线或γ射线照射探测器，测量其输出脉冲计数率或感应电荷量，计算探测器收集到的电荷载流子对数与入射光子数之比，获得外量子效率。该参数反映探测器将入射辐射光子转换为可测电信号的综合效率。
作用：表征辐射探测器的光子-电荷转换效能，评价不同能量下的量子效率平坦度。可对比不同探测器材料与结构的灵敏度差异；评估电荷收集效率对探测效率的限制；为探测器选型、成像系统剂量优化及能量响应校正提供关键效率参数。
2 样品要求
待测探测器须可在额定偏压下稳定工作，输出信号须与入射光子注量率呈线性响应。电极接触须为欧姆接触或良好整流接触，漏电流应远低于信号电流以保障信噪比。闪烁体探测器须与光电转换器件光学耦合良好。测试几何条件须精确固定以确定入射光子数。辐射源单能性须满足测试需求，散射本底须通过准直与屏蔽降至最低。探测器在测试通量范围内不应出现显著死时间或脉冲堆积。
3 常见问题
3.1低能光子衰减不完全。
低能X射线在探测器入射窗、死层或电极中衰减显著，部分光子在灵敏体积前被吸收，导致表观量子效率偏低。须采用薄窗或无窗设计探测器，并以蒙特卡罗模拟计算入射路径衰减因子。
3.2电荷收集非均匀性。
半导体探测器中缺陷、空间电荷或电场畸变引起不同深度处电荷收集效率差异。高能光子穿透至收集效率低的区域时，脉冲幅度亏损，量子效率呈现能量依赖性下降。须通过质子微束或激光诱导瞬态电流技术扫描电荷收集均匀性。
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