具体测试对象：
高纯锗（HPGe）γ 谱仪
碘化钠（NaI:Tl）及溴化镧闪烁体晶体
硅漂移探测器（SDD）、金刚石带电粒子探测器等
1 项目介绍
原理：通过已知绝对发射率的标准放射源定距照射探测器，严格测定单位时间内多道分析器记录的脉冲计数率与放射源实际粒子发射率的比值，从而建立全能峰效率与入射能量的物理关系。
作用：测量绝对探测效率、本征探测效率及全能峰效率随能量的变化曲线。能够实现环境中未知放射性核素绝对活度的定量解析；精确评估探测器灵敏体积及前表面死层的有效物理厚度；为辐射剂量率的绝对转换提供底层的核物理常数支持。
2 样品要求
在进行体源（如环境土壤或液态源）效率刻度时，刻度源的密度、有效原子序数（Zeff）必须与实际待测物严格一致。若基质密度过大或含有重核元素，其内部严重的物理自吸收效应将拦截大量低能射线，致使低能段的标定效率在实际应用中完全失效。
3 常见问题
3.1 低能端的射线自吸收。
对于极低能的 X/γ 射线，探测器入射窗口（如铝壳、铍窗）及晶体表层死层会产生强烈的物理光电吸收，导致效率急剧衰减。同时，周围铅屏蔽室或支架产生的康普顿背散射光子会二次混入探测体积，在能谱低能端形成连续的高本底干扰，增加低能全能峰净面积的数学积分误差。
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