具体测试对象:
无机半导体粉末光催化剂电极(TiO₂、ZnO、CdS等)
半导体光催化薄膜电极、金属/半导体肖特基结光电极
掺杂及固溶体光电极、异质结光电极、量子点敏化光电极等
原理:在工作电极上施加恒定电位,记录电流随时间的变化曲线。光照开启瞬间,光生载流子分离并迁移至电极表面产生光电流尖峰,随后陷阱态填充与载流子复合使电流趋于稳态;光照关闭后,载流子复合与陷阱态释放引起暗态电流衰减。
作用:评价光催化剂的载流子分离效率与瞬态响应特性。可从电流衰减曲线提取载流子寿命与陷阱态时间常数;比较不同光电极的稳态光电流密度以判断光催化活性;通过多次光暗循环评估器件工作的稳定性与可逆性,为光电极结构优化提供动力学数据。
光催化剂须沉积于导电衬底上制成工作电极,常用FTO或ITO导电玻璃。膜层须与基底结合牢固,在电解液中不脱落。电极面积须精确已知以计算电流密度。电解液须经惰性气体除氧,以排除溶解氧对暗电流的贡献。参比电极电位须稳定不漂移,对电极面积应大于工作电极面积,避免对电极极化限制测量。
3.1光源开关切换延迟。
机械快门或光源驱动电路响应延迟导致光电流瞬态波形失真,上升沿时间常数为光源特性而非器件响应,须采用快响应LED光源或校准快门延迟。
3.2薄膜脱落或溶解。
长时间恒电位测试中,膜层与基底间结合力不足或因电化学腐蚀导致催化剂逐步脱落,电流持续衰减,须在测试前后对比电极形貌以确认测试有效性。

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