具体测试对象:
PIN光电二极管、肖特基光电二极管
位置敏感探测器(PSD)、光伏型探测器
光电池、光电导探测器、四象限探测器、大面积辐射探测器等
原理:以已知辐射功率的稳态连续光照射待测探测器光敏面,在固定偏压或零偏条件下,通过精密源表直接测量探测器输出端产生的直流光电流或光电压,计算输出电信号与入射光功率之比,获得探测器的直流响应度。
作用:测定探测器在稳态光照下的绝对响应度,表征器件对恒定光辐射的转换效率。可建立入射光功率与输出电信号的线性工作区间;评估探测器暗电流、短路电流及开路电压特性;为探测器量子效率的直流法测定提供基础数据;用于器件线性度、最小可探测功率及动态范围的分析评价。
探测器须具备稳定的直流偏置工作点,在测试光功率范围内输出信号与入射光功率呈线性关系,避免进入饱和区。电极接触须为可靠的欧姆接触,接触电阻远小于器件内阻以保证电流提取效率。暗电流须预先测定并低于最小测试光功率所产生光电流至少一个数量级。光敏面须均匀无局部缺陷,以避免空间响应非均匀性导致的光斑位置依赖性误差。
3.1背景光干扰与环境光屏蔽。
直流测量模式下,无调制与锁相检测环节,室内照明及环境杂散光直接叠加于信号光之上,引入直流偏置误差。须在暗箱或暗室中进行测量,并确认遮光完备性。
3.2光源功率稳定性影响。
直流测量对光源短期功率漂移敏感。氙灯或卤钨灯输出功率在时间尺度上的波动直接转化为响应度测量值的不确定度。须采用功率反馈稳定光源或同步监测光源功率以作修正。

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