具体测试对象：
硅基PIN光电二极管，雪崩光电二极管（APD）
CCD/CMOS图像传感器像素单元
InGaAs短波红外探测器、碲镉汞（MCT）中长波红外探测器等
1 项目介绍
原理：以宽谱光源经单色仪分光产生波长可调的单色窄带辐射，按预设步长依次投射于待测探测器光敏面，同步记录各波长下器件的输出光电流或电压，与已标定的标准探测器响应值逐点比对，经归一化处理后获得待测器件的相对或绝对光谱响应度曲线。
作用：测定探测器响应度随波长变化的函数关系，提取峰值响应波长、长波截止波长、短波截止波长及响应带宽。可计算外量子效率谱，评估器件在目标波段的灵敏度均匀性；为探测器材料能带结构分析提供实验判据；用于器件分级筛选、系统光谱匹配设计及辐射定标校准。
2 样品要求
待测探测器须具备可被单色光束全覆盖的明确光敏区域，光敏面尺寸应大于单色光斑直径以避免边缘效应。器件须有可靠的欧姆接触电极引出，偏置电路连接后暗电流稳定且处于数据手册标称范围。封装型器件的光窗材料在测试波段内须具有已知且平坦的透射率，或可提供透射光谱以作修正。光敏面表面须无氧化层、油污或颗粒物附着。
3 常见问题
3.1杂散光与高阶衍射干扰。
单色仪光栅高阶衍射分量未被长通滤光片充分抑制时，短波测试段会引入倍波长杂光，致使响应度测量值偏高。需根据当前扫描波段自动切入对应截止滤光片组。
3.2标准探测器校准偏差。
标准探测器自身响应度定标值存在不确定度，且部分热释电标准探测器对波长不平坦，若未逐点修正其修正因子，绝对响应度换算将引入系统性传递误差。
复制产品链接
长按图片保存/分享
询盘
询盘
东谱科技（广州）有限责任公司 东谱检测
Copyright @ Oriental Spectra All Rights Reserved
热线：
020-66834066 / 18565438025
邮箱：
test@orientalspectra.com
地址：
广东省广州市天河区白沙水路长兴创兴港5栋
