具体测试对象：
晶硅太阳能电池片及层压组件
大面积薄膜光伏器件（有机光伏OPV，钙钛矿，CIGS等）
1 项目介绍
原理：是一种高灵敏度的非破坏性热场缺陷检测技术。原理是对样品施加特定频率的周期性电（DLIT）或光（ILIT）激发，利用红外相机阵列连续捕捉样品表面的微小温度波动，并结合锁相放大算法提取与激发源同频同相的热辐射信号，从而获得微开尔文（μK）级别的超高热灵敏度。
作用：测量局域热耗散功率的空间分布（幅值图与相位图）、暗电流密度分布图。能够精准定位光伏器件内部的局域漏电流位点、金属化电极的接触不良及晶格微裂纹；定量评估不同缺陷对电池填充因子（FF）和整体光电转换效率的损耗贡献。
2 样品要求
红外相机捕捉的是样品表面的热辐射红外光子。若光伏样品表面存在大面积的高反射金属层（发射率极低），其不仅无法有效辐射自身热量，还会像镜子一样反射环境背景的热噪声。对于未镀减反射膜（ARC）的裸硅片或高反光基底，通常需要预先喷涂一层极薄且均匀的高发射率哑光黑漆进行光学标定。
3 常见问题
3.1 表面发射率差异引发假性伪影。
光伏电池表面的主栅线、细栅线与减反射膜之间的红外发射率存在显著差异。在相同物理温度下，发射率的不同会导致红外相机接收到的辐射能量出现偏差。若不进行严密的表面拓扑校准或发射率修正，测得的锁相热幅值图中会叠加大量的金属栅线伪影，极易将发射率突变误识为真实的异常发热区域。
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