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微区光电流成像(SPCM)
原理:利用衍射极限聚焦的激光束在器件表面进行二维逐点扫描,原位激发出局部电子-空穴对;载流子在材料内部或界面处的内建电场驱动下分离形成光电流。将提取的电流幅值与激光空间坐标映射,即可绘制出光电响应的二维物理图像。
二次离子质谱(SIMS)
原理:在超高真空中,利用高能初级离子束连续轰击样品表面,引发级联碰撞并导致表面原子或分子团簇发生物理溅射与电离;随后,通过高分辨质量分析器对逸出的“二次离子”按质荷比(m/z)进行空间色散与飞行时间探测,从而精准获取材料内部的元素与同位素分布。
电子能量损失谱(EELS)
原理:高能入射电子束穿透极薄二维样品时,与样品内部晶格电子发生非弹性碰撞而损失特定能量。通过磁场(能量过滤器)按能量损失值对出射电子进行空间色散与探测,即可在原子尺度上精确解析材料的电子能带结构与元素组成。
飞秒瞬态吸收光谱(fs-TAS)
原理:利用一束飞秒泵浦脉冲激发样品产生非平衡载流子,随后利用另一束经过精确机械延迟的超连续白光(探测脉冲)穿透样品,测量其吸光度的瞬态微小变化(ΔA)。通过改变延迟时间,在飞秒至纳秒尺度上重构激发态的演化轨迹。
光致发光激发光谱(PLE)
原理:固定光谱仪的发射检测波长(通常为特征发光峰),连续扫描激发光源的波长(即改变入射光子能量),记录荧光强度随激发波长变化的相对分布图谱,从而直接揭示材料从基态到高激发态的辐射吸收与能量传递网络。
近场光学显微测试(SNOM)
原理:利用孔径远小于波长的光纤探针或金属散射针尖逼近样品表面(极近场区),通过收集非传播的渐逝波,实现纳米级空间分辨率的光学成像。
磁光克尔效应测试
原理:指线偏振光在磁性材料表面发生反射时,由于光子与材料自旋轨道耦合相互作用,反射光的偏振面发生旋转(克尔角)或变为椭圆偏振的非线性光学现象。其克尔旋转角的大小直接与材料的宏观磁化强度成正比。
泵浦-探测动力学测试
原理:是一种超快时间分辨光谱技术。利用一束高能量的飞秒激光(泵浦光)激发材料产生非平衡载流子,随后利用机械延迟线改变光程差,用另一束较弱的飞秒激光(探测光)在不同时间延迟下测量材料的透射率或反射率变化(ΔT/T 或 ΔR/R),从而在时域上完整描绘激子的产生、热化冷却与复合全过程。
光学二次谐波测试(SHG)
原理:是一种非线性光学表征技术。当高强度的脉冲激光(频率为 ω)照射到缺乏中心反演对称性的晶格时,两个光子通过非线性极化过程发生相干融合,转化为一个频率加倍、能量翻倍(2ω)的新光子射出。
紫外可见近红外光谱(UV/VIS/NIR)
主要应用: 化合物定性与结构解析 组分定量分析 材料光学性能表征 纯度与杂质筛查
纳米粒度及Zeta电位分析仪(DLS)
主要应用: 1.半导体领域 2.医药与食品领域 3.陶瓷与颜料工业领域 4.聚合物与化工领域
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