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紫外-可见吸收光谱(UV-Vis)-东谱实验室
原理: 基于材料对紫外和可见光波段(通常为 200∼800nm)电磁辐射选择性吸收的光学表征技术。其原理是光子能量(E=hν)与分子中价电子的能级差相匹配时,引发电子从基态向激发态跃迁,通过测量透射或反射光强度的衰减,反演材料的光学吸收特性与能带结构。
QLED-瞬态吸收光谱(TA)-东谱实验室
原理:是一种超快泵浦-探测技术。利用超短脉冲激光(泵浦光)激发样品,随后用宽带连续脉冲(探测光)在不同时间延迟下捕捉样品透射率或反射率的微小变化(ΔA),实时追踪激发态演变。
X射线光电子能谱(XPS)-东谱实验室
原理:是一种基于光电效应的表面灵敏化学分析技术。利用单色X射线辐照样品表面,激发出内层电子(光电子),通过测量逸出光电子的动能,反推其在原子中的结合能,从而实现对材料表面元素的定性、定量及其化学价态的精确解析。
时间相关单光子计数(TCSPC)-东谱实验室
原理:利用高重频超快脉冲激光激发样品,以激发脉冲为“起点”,以单光子探测器捕获到的第一个荧光光子为“终点”进行精确计时。经过数百万次重复测量,统计光子到达时间的概率分布直方图,从而高精度重构出样品的真实发光衰减曲线。
余晖时间测试-东谱实验室
原理:利用脉冲激光或电脉冲瞬态激发样品,使其载流子跃迁至激发态,在激发源关闭后,通过高时间分辨探测系统记录发光强度随时间的指数衰减曲线,依据衰减速率提取激子寿命或余晖时间。
光致发光量子产率(PLQY)-东谱实验室
原理:利用特定波长的单色光激发样品,通过积分球收集样品发射的总光子数与样品吸收的总光子数,两者的比值即为材料的绝对量子产率。
激光散射检测
原理:利用单色激光束照射悬浮在液体介质中的颗粒,通过捕捉颗粒对激光产生的空间散射角分布(静态)或多普勒频移(动态),基于米氏散射理论等,反推出颗粒群体特征。
热重分析(TGA)
原理:是一种在程序控制温度(或恒温)及特定气氛下,连续测量发光材料样品的质量随温度或时间变化规律的热分析技术。利用高精度微量天平,实时监测样品在加热过程中因溶剂挥发、相变、热分解或氧化还原反应引起的物理或化学质量损失。
Cell测试(CT)
原理:在微米级芯片键合到驱动背板后,通过高密度微纳探针矩阵(或非接触式电容/电磁感应)向各个独立像素施加精密的微伏/微安级电激励,动态采集电流-电压(I-V)响应曲线,以此评估芯片本征电学特性与接口键合质量。
瞬态光电压(TPV)
原理:在发光材料领域,瞬态光电压(TPV)测试利用脉冲激光激发完整的发光二极管器件,通过测量极板间开路电压的瞬态建立与衰减,逆向探究激子非自发解离程度、界面势垒阻挡以及电荷在缺陷处的积累与非辐射复合动力学过程。
光致发光光谱(PL)
原理:利用一定波长的光(如紫外光或激光)激发发光材料,使其内部电子从基态跃迁至激发态,随后在弛豫与退激发过程中以光子形式释放能量的光谱学技术。直接反映了材料内部的电子能级结构与辐射跃迁动力学。
时间分辨光致发光光谱(TRPL)
原理:利用皮秒或飞秒级超短脉冲激光激发材料,使电子跃迁至激发态。随后利用时间相关单光子计数或条纹相机技术,高频追踪记录荧光光子随时间的微观衰减过程。通过拟合衰减曲线,直接提取载流子或激子的荧光寿命,揭示材料内部瞬态光物理动力学。
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