具体测试对象：
量子点（QLED）表面的无机/有机配体
微型发光二极管（microLED）侧壁的钝化层
有机发光小分子（OLED）薄膜及其与金属电极的界面层等
1 项目介绍
原理：是一种基于光电效应的表面灵敏化学分析技术。利用单色X射线辐照样品表面，激发出内层电子（光电子），通过测量逸出光电子的动能，反推其在原子中的结合能，从而实现对材料表面元素的定性、定量及其化学价态的精确解析。
作用：测试器件的表面元素组成、特定元素的化学态/价态、价带谱、功函数等。能够鉴定发光量子点表面的配体脱落或氧化降解状态；解析 microLED 侧壁钝化薄膜的化学计量比与键合质量；评估 OLED 器件中载流子注入层界面的能级排布与化学反应。
2 样品要求
许多发光基底（如蓝宝石、玻璃）或厚层聚合物（如 OLED 树脂封装层）属于绝缘体。在 X 射线持续辐照下释放光电子后，表面会累积大量的正电荷（荷电效应）。这会导致光谱峰位向高结合能方向发生严重的非物理偏移。测试此类样品时，必须依赖仪器内置的低能电子枪或双束（电子+低能氩离子）中和枪进行实时的表面电位补偿。
3 常见问题
3.1 本征有机碳的信号混叠干扰。
对于本身就富含碳元素的有机发光材料（OLED）或被有机配体包裹的量子点，样品表面不可避免吸附的环境污染碳会与材料自身的碳骨架信号发生严重重叠。在进行精细的碳化学态分析或作为内标校准结合能时，很难将外来污染与本征结构彻底剥离，导致定量误差。
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