具体测试对象:
无机半导体粉末光催化剂电极、半导体光催化薄膜电极
掺杂及固溶体光电极、异质结光电极
量子点敏化光电极、染料敏化光电极等
原理:以正弦调制光照射待测光电极,在开路条件下测量光电压对调制频率的响应,获得光电压幅值与相位随频率变化的传递函数。光电压在低频区受载流子复合过程支配,频率升高时光电压幅值下降,由转折频率可提取载流子复合寿命。
作用:在开路条件下非接触式表征光催化剂中光生载流子的复合动力学,提取等效复合时间常数。可比较不同光电极材料或界面修饰层的复合抑制效果;评价电子传输层与空穴传输层对载流子寿命的影响;为光电极界面工程与能带匹配设计提供频率域动力学参数。
光催化剂须沉积于导电衬底上制成光电极,膜层结合牢固,在电解液中不脱落。测试须在开路条件下进行,测量回路输入阻抗须远大于光电极内阻。电解液须经惰性气体除氧,参比电极电位稳定。调制光源频率范围须覆盖载流子复合特征频率,光斑须均匀覆盖电极有效区域。测试系统须可提取微伏级光电压信号
3.1电磁干扰耦合。
开路光电压信号微弱,外部电磁场通过导线耦合引入噪声,高调制频率下信噪比下降,须采用屏蔽腔体与同轴屏蔽引线。
3.2高次谐波失真。
光源在正弦调制驱动下产生高次谐波分量,光电压响应包含谐波信号,导致频率响应曲线出现非单调结构,须校准光源调制线性度。

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