具体测试对象：
无机粉末光催化剂（ZnO，CdS）
半导体光催化薄膜
金属/半导体肖特基结等
1 项目介绍
原理：利用斩波器调制的单色光扫射材料表面，通过透明导电极与材料表面形成的开路电容耦合结构，精密测量光生电子-空穴对在表面与体内分离、并向表面扩散聚集所引起的宏观表面电势相对变化。
作用：测量不同激发波长下的表面光电压（SPV）幅值、相位角，以及亚带隙区域的光响应带。能够非破坏性提取光生载流子在界面处的分离效率与扩散长度；精准诊断异质结/助催化剂界面能带弯曲的方向；探测决定光催化活性的亚带隙缺陷能级或表面态位置。
2 样品要求
光催化剂表面极易吸附环境中的氧气（作为电子受体）或水汽（作为空穴受体）。在测试过程中，光生电荷如果不可逆地与表面吸附物发生化学反应并生成稳态产物，会导致表面能带发生永久性不可逆弯曲漂移。因此，样品需置于严格受控的干燥空气或惰性气氛舱中测试，以排除表面化学态波动的干扰。
3 常见问题
3.1 假性宽带响应影响。
在测量极弱的亚带隙缺陷响应时，如果单色仪的滤光片匹配不当，高能紫外的二次衍射杂散光将泄漏并直射样品，产生假性的深能级响应。此外，若透明探头（如 ITO 玻璃）在光照下自身发生微弱的光电发射或功函数变化，将产生随波长波动的接触电位差假信号，与材料本身的 SPV 混叠。
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