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计时电流法-东谱实验室
原理:在工作电极上施加恒定电位,记录电流随时间的变化曲线。光照开启瞬间,光生载流子分离并迁移至电极表面产生光电流尖峰,随后陷阱态填充与载流子复合使电流趋于稳态;光照关闭后,载流子复合与陷阱态释放引起暗态电流衰减。
循环伏安法(CV)-东谱实验室
原理:在工作电极上施加线性三角波电位扫描,记录电流随电位变化的响应曲线。正向扫描与反向扫描分别驱动氧化与还原反应,峰电位、峰电流及峰形反映电活性物种的氧化还原热力学与电极过程动力学。暗态与光照条件下交替扫描可分离光生载流子贡献。
Mott-Schottky测试-东谱实验室
原理:在暗态条件下,对浸入电解液的光电极施加直流偏压进行阶梯扫描,同时在每个偏压台阶上叠加小幅高频交流扰动信号,测量电极/电解液界面的空间电荷层微分电容。根据Mott-Schottky方程,电容平方倒数对偏压的线性区斜率与截距分别与载流子浓度和平带电位相关。
瞬态光电流测试(TPC)-东谱实验室
原理:以周期性的方波光脉冲照射置于电解液中的待测光电极,光电极在光照期产生光生载流子并形成光电流,暗期载流子复合,通过电化学工作站快速记录电流随时间的瞬态响应,获得光电流上升沿与衰减沿的时间演化曲线。
稳态光电流测试-东谱实验室
原理:在固定波长与光功率的连续光照射下,对待测探测器施加恒定偏压或保持零偏,待其输出电流达到时间稳态后,通过精密源表记录稳态光电流幅值。该电流包含光生载流子产生、传输、收集及复合各环节达到动态平衡后的净输出,反映了器件在恒定光辐射下的直流光电转换效率。
空间电荷限制电流法(SCLC)-东谱实验室
原理:在暗场条件下向待测薄膜的单载流子注入型器件结构施加正向偏压,使注入载流子浓度逐渐超过本征热平衡载流子浓度,此时注入电荷在薄膜内形成空间电荷区,其对电流的限域效应取代欧姆传导成为主导传输机制,电流-电压曲线由低偏压欧姆区过渡至高偏压空间电荷限制区。
霍尔效应测试-东谱实验室
原理:在垂直样品表面方向施加已知磁场,样品平面内通以恒定电流,运动载流子受洛伦兹力偏转,在垂直于电流与磁场方向两侧积累电荷,形成霍尔电压。通过范德堡法或霍尔桥结构测量霍尔电压符号与幅值,结合电阻率获得载流子类型、浓度与迁移率。
暗电流均匀性测试-东谱实验室
原理:在绝对暗场条件下对探测器每一像元或选定空间区域逐一施加恒定偏压,通过精密电流测量通道采集各点的稳态暗电流值,将暗电流幅值映射为空间分布图,计算阵列的暗电流均值、标准差及非均匀性系数。
光暗循环稳定性测试-东谱实验室
原理:将待测探测器置于可控周期性光暗交替环境中,光照期与暗期时长及光功率按预设时序执行,连续监测器件关键光电参数在数百至数万次循环中的演变轨迹。光照期记录光电流或响应度,暗期记录暗电流恢复行为,以循环次数为横轴绘制参数衰减或漂移曲线。
表面光电压谱(SPV)-东谱实验室
原理:以波长可调的单色光照射半导体样品表面,光子吸收产生电子-空穴对,在内建电场或表面势作用下发生空间分离,改变表面电势。采用非接触式Kelvin探针或电容耦合电极检测表面电势变化量随激发波长的函数关系,获得表面光电压谱。
光电流成像(LBIC)-东谱实验室
原理:将聚焦至微米或亚微米尺度的激光光斑在样品表面进行二维栅格扫描,同步采集每一扫描位置的光生短路电流或偏置光电流,将电流幅值映射为空间灰度或伪彩色图像,形成光电流分布图。该技术以扫描探针形式实现光电器件局域响应特性的空间分辨表征。
线性动态范围测试(LDR)-东谱实验室
原理:在固定偏压与波长条件下,以一系列已知辐射功率的连续光或调制光依次照射待测探测器,辐射功率从噪声极限逐步递增至器件输出饱和,记录每一功率台阶下探测器的输出信号,建立输出信号-输入光功率的双对数关系曲线,将信号偏离理想线性响应1dB时对应的上下限功率比值确定为线性动态范围。
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