主要应用： 1. 光掩模版制造 2. 纳米器件原型验证 3. 微纳光学与超表面 4. 先进封装与MEMS 5. 生物芯片与传感

基于干涉调频原理的红外光谱分析设备，通过测量干涉图并傅里叶变换为光谱图，实现对材料分子振动/转动能级的快速、高灵敏探测： 主要应用： 1.材料化学结构鉴定，高分子水解程度分析，丙烯腈共聚物含量测定、蛋白质酰胺Ⅰ带（二级结构分析）； 2.定量分析与质量控制，药品中活性成分含量检测； 3.先进材料研究先进材料研究，生物膜原位动态监测、蛋白质变构机制研究。 测试周期：12个工作日

主要应用： 1.测量材料发射的左旋（LCP）与右旋（RCP）圆偏振荧光强度差异的精密仪器； 2.其核心功能是表征手性发光体系（如手性分子、螺旋聚合物、稀土配合物、量子点等）的不对称发光特性，为手性光学材料设计与机理研究提供关键数据。 测试周期：12个工作日

主要应用： 1.用于光化学、光物理、光催化等过程中的激发态寿命、能量转移、电子传递的表征； 2.主要应用于探究发光材料、光伏材料、光催化材料以及能量上转换材料等的光物理、光化学过程。 测试周期：12个工作日

主要应用： 1.用于光化学、光物理、光催化等过程中的激发态寿命、能量转移、电子传递的表征； 2.主要应用于探究发光材料、光伏材料、光催化材料以及能量上转换材料等的光物理、光化学过程。 测试周期：12个工作日

主要应用： 1.有机电子材料：OLED发光层、OTFT沟道材料的空穴/电子迁移率（如测量P3HT的 ）； 2.光伏材料：钙钛矿（MAPbI₃）、有机太阳能电池活性层的载流子输运能力评估； 3.低维材料：量子点薄膜、纳米晶半导体的缺陷态与迁移率关联性研究； 4.绝缘材料改性：聚合物电介质（如PI, PEN）的电荷输运特性优化。 测试周期：12个工作日

主要应用： 1.掺杂有机半导体材料（P型和N型）； 2.Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, , AlZnO, FeCdTe, ZnO，TCO(including ITO)等半导体薄膜（P型和N型）； 3.自由基材料； 4.本征半导体、低迁移率半导体、MOF、COF、二维半导体等材料。 测试周期：12个工作日

主要应用： 带隙测定、激子态研究、量子阱子带跃迁、材料质量评估 光电子器件特性表征、调制器和开关、非线性光学特性、量子信息处理 测试周期：12个工作日

主要应用： 1.探测光照下材料表面电势变化来研究半导体/绝缘体表面能带结构、界面电荷转移及缺陷态的非接触式表征设备； 2.其核心在于分析光生载流子在空间电荷区的分离行为； 3.适用太阳能电池、光电探测器、催化材料、半导体等研究领域。 测试周期：12个工作日

Microsurfer太阳能电池组件失效综合分析仪是一款专为太阳能电池组件失效分析而设计的高精度仪器。它能够对太阳能电池组件进行全面的电学及光电特性测试，包括但不限于电流-电压(I-V)特性、光致荧光强度失效分析、光致荧光发射光谱失效分析、光致荧光寿命失效分析、电致发光强度失效分析、电致发光光谱失效分析、瞬态电致发光失效分析等16种功能，且支持客户定制化开发，兼容更多失效分析手段。

FluxDancer半导体参数分析仪是由Oriental Spectra精心打造的高精度测试设备，专为测量和分析半导体器件的电学特性而设计。这款仪器融合了众多前沿测量技术，包括电源、电压表、电流表、LCR表和开关矩阵等，使其能够执行电流-电压（IV）和电容-电压（CV）测量，以及快速脉冲IV测量等多种测试。

多功能光电测试仪UltraTran（含深能级瞬态谱仪）用于测试光电器件的特性，如阻抗谱、深能级瞬态谱灯。DLTS功能主要用于测试半导体材料器件深能级瞬态谱DLTS。评估半导体深能级陷阱的浓度和热发射率。